我有一个基于DA14580标签应用说明的接近设计。
目前正在进行BLE 4.1认证测试，未通过“最大频率漂移”测试。
我已经附上了测试所的报告。我正在确认16M晶体是“调好”的，但现阶段这是我们根据工厂的假设。
你能解释一下吗，还有什么需要我们做的吗?
问候
安东尼
关键词:
附件:
设备:
嗨麦克斯韦森林,
你能告诉我你使用的SDK是什么吗?
由于MT_dialog
嗨,麦克斯韦,
另外，可否提供原理图、BOM和图纸，以便查看?
由于MT_dialog
你好,
最初的设计是使用DA-14580封装芯片的原型，生产是使用一个模具。原理图与邻近标签应用程序相同，尽管我们正确地实现了FLASH的FET控制，但在Dialog提供的代码中没有操作。
注意，在天线调谐组件位置“L2”现在是1.5pF电容，位置“C9”现在是15nH电感。
还请注意，在原理图上还有其他组件没有安装，供将来使用:
不安装:D2, D3, D4, R7, R8, R9, LS1 R10, R11, R12, R13, R14, R15, R16, Q1。
还请注意，还有一些额外的焊盘用于Wire键合出测试。
我的S/W的家伙是休假，但我将回到你很快与SDK细节
这张示意图是保密的。
问候
安东尼
请暂时搁置，我可以确认16M晶体没有校准，平均是-22ppm的低频率。
我们将更正并重新测试，并保持您的消息。
问候
安东尼
大家好，我们使用的SDK是5.0.3。
嗨MaxwellForest,
机票有新的消息了吗?你重新测试过设备了吗?
由于MT_dialog
这是一场虚惊。16M晶体在测试前没有在工厂校准。校准解决了这个问题。