测试模式下的脏包测量

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结婚,2016-10-19 23:32
＃1
luke.liu@litepo……
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测试模式下的脏包测量

我在测试模式下使用14580DEVKIT和固件full_emb_583.bin。脏包测量似乎有一个地板(~8% PER)在高水平(-70dBm)附加。按照规格，这是不会发生的。我在两个对话dut上看到了这个。你有更新的固件版本可以尝试吗?

路加福音

附件:
PDF图标每floor.pdf
设备:
DA14580
星期四,2016-10-20 16:57
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你好卢克,

你好卢克,

full_emb_58x。hex文件来自接近报告源代码，如果你想要一个更新的fw来执行一些测试，你可以编译和使用来自SDK5.0.4的proximity_。

由于MT_dialog

星期四,2016-10-20 18:42
luke.liu@litepo……
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我试了5.0.4和

我尝试了5.0.4，结果是一样的。你能转发给你的设计团队吗?或者你有联系方式吗?

路加福音

星期五,2016-10-21 16:17
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工作人员
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你好卢克,

你好卢克,

我正在与硬件和射频团队进行检查，我们使用Litepoint测试器进行测试后会尽快通知你，到目前为止我们还没有看到任何问题。

由于MT_dialog

星期五,2016-10-21 17:56
luke.liu@litepo……
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谢谢。你知道我们

谢谢。只是你知道我们在其他芯片供应商上做了同样的测试，没有观察到同样的问题。我还附上了设备的图片，你可以查看硬件版本。

附件:
包图标dialog_dut_litepoint.zip
星期四,2016-10-27 08:07
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工作人员
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你好卢克,

你好卢克,

我们已经通过电子邮件直接与您联系。

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